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多晶粉末X射线衍射仪

Polycrystaline X-Ray Powder Diffractometer

 
 

型号:X’Pert PRO MPD

厂商:荷兰 PANalytical V.B.

启用时间:2005.3

放置地点:新能源大楼1楼

联系人及电话:张少鸿 020-37246206

 

主要功能:

    常规角度(5 ~160°)及小角度(0.5~5°)常温物相扫描、程序变温(-193℃~450℃)中低温物相扫描、程序变温(室温~1200℃)高温物相扫描;薄膜物相扫描和纳米多层膜厚度分析;纳米颗粒度分布分析。

 

主要配置及技术指标:

1.标准分辨率测角仪(半径:240mm,2θ角范围:-0.5~160°,最小步长:0.001°,最大步长:1.27 °);

2.陶瓷(Cu靶)X光管  (最大功率:2.2kW,最大管压:60kV,最大电流:55mA);

3.X’Celerator超能探测器和正比探测器;

4.常温扁平固体或粉末水平样品台;

5.中、低温样品台(Anton Paar TTK 450,温控范围:-193~450℃);

6.高温样品台(Anton Paar HTK 1200N,温控范围:室温~1200℃);

7.点焦和线焦光路与平行光路;

8.小角度散射(SAXS)。

 

应用范围:

    广泛适用于固体粉末和薄膜样品的组成物相分析、薄膜厚度分析、纳米颗粒度分布分析。应用范围:水合物、催化剂、太阳能材料、有机能源材料、环境能源材料、生物质材料、固体废弃物等各种材料、薄膜和矿物样品分析表征。