| 型号：ESCALAB 250Xi 厂商：美国 Thermo Fisher Scientific 公司 启用时间：2015.5 放置地点：新能源大楼1楼 联系人及电话：张少鸿 020- 37246206 主要功能： 具备单色化XPS、微区XPS、Al/Mg双阳极XPS、平行成像XPS、离子深度刻蚀、离子散射谱ISS、反射电子能量损失谱REELS和定制气体反应系统准原位X射线能谱分析功能。 主要配置及技术指标： 1. 常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。 2．微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析。 3．深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。 4．XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。 5．反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。 6．离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测。 7．紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的能带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。 8. 变温（液氮制冷，加热）条件下测试。 9. 原位测试。 主要用途： 可用于研究各种固体材料样品表面（1-10nm厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。 | 
