| 型号：JEM-2100F 厂商：日本电子株式会社 启用时间：2015.11 放置地点：新能源大楼101-2 联系人及电话：梁正 020-37272535 主要功能： 主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，通过各种衬度像，对材料进行形貌、晶粒尺寸等的分析；利用电子衍射等研究材料的微观组织结构和相的鉴定。利用EDS对样品进行成分分析。 主要配置及技术指标： 1. 高亮度场发射电子枪；电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射；成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像(HREM)、扫描透射像(明场像、环状暗场像)；微区成分：EDS能谱的点、线和面分析； 2. 离子清洗机（EC-52000IC）、干泵抽气系统（JEC-4000DS）、EDS能谱仪(美国热电Noran System 7, 30平方毫米, 优于129 eV，Mn/Ka)； 3. Gatan832CCD成像系统，分辨率：4k ×2.7k，像素尺寸：9μm×9μm； 4. 加速电压：200kV； 5. 最小束斑尺寸0.5nm； 6. 点分辨率：0.23nm；线分辨率：0.1nm； 7. STEM像上的线分辨率0.2nm； 8. 放大倍率误差±10 %； 9. 样品室真空≤2×10-5Pa。 应用范围： 可进行样品的微观形貌分析，获得具有高空间分辨率的非晶材料的质厚衬度像、多晶材料的衍射衬度像和单晶材料的相位衬度像等；微观结构分析；微区成分分析。广泛用于催化剂、生物质、能源材料、地矿样品等形貌、结构和微区成分的表征。 | 
