球差校正透射电镜

Aberration Correction Transmission Electron Microscope

厂家：日本电子株式会社

型号：JEM-ARM200F

联系人：梁正

联系方式：020-87057706

主要功能：

原子尺度上的结构表征与成分分析。观测样品高达原子分辨率的点阵图像，即形貌和结构信息，还能在纳米甚至亚纳米的空间分辨率下给出相应的化学信息。 具有超高空间分辨率和多种分析功能。

主要配置及技术指标：

• EDS能量分辨率：133eV(Mn Kα峰)，探测器总有效面积：200mm2；

• Gatan OneView 1095CMOS相机，分辨率：4k ×4k，像素尺寸 ：15μm×15μm；

• 加速电压：60-200kV间可调； Ø能量分辨率：≤0.3eV；

• 电子枪室真空：≤10-8Pa，样品室真空度：5×10-5Pa；

• TEM模式，点分辨率：0.23nm @ 200kV ，晶格分辨率0.102nm ，信息极限分辨率0.11nm @ 200kV ，STEM模式(HADDF)分辨率：0.078nm@ 200kV；

• 龙驰图：50mrad以上，@200kV/80kV/60kV； 

• 样品漂移率：1 nm/min 以下； AXON原位加气和加热系统，最高加热温度1000℃，混合气体功能。

应用范围：

可进行TEM形貌观察、电子衍射、高分辨晶格像、明场和暗场像、原子像，气体加热原位分析。广泛用于催化剂、生物质、能源材料、电池、地矿样品等形貌、结构和微区成分的表征。